KOBALT İNCE FİLMLERİNİN X-IŞINI SOĞURMA SPEKTROSKOPİSİ İLE İNCELENMESİ

A Study Of Cobalt Thin Films By X-ray Absorption Spectroscopy

Ayşe BOZDUMAN                                                                        Yüksel UFUKTEPE
Fizik Anabilim Dalı                                                                         Fizik Anabilim Dalı                                                                                

ÖZET
Kobalt’ın  L2,3 kenarında λe toplam elektron kazanç derinliğini veya  elektron kaçış derinliğini x-ışını soğurma spektroskopisini kullanarak hesaplamak amacıyla ince kobalt filmleri değişik kalınlıklarda oluşturuldu. Uygun foton enerjisi ile uyarılan kobalt filmlerinde ortaya çıkan toplam elektron ürünü kaydedilerek incelendi. Toplanan veri analizleri sonucunda λe elektron kaçış derinliği (escaping depth) hesaplandı. Bulunan bu değerler literatürde daha önce yapılmış olan diğer benzer çalışmalar ile karşılaştırıldı ve bu çalışmada elde edilen sonuçların uygun değerler olduğu saptandı.  Buna göre TEY elektron kaçış derinliği λe=2.7±0.1 nm  bulundu.
Anahtar Kelimeler: 3d Geçiş Metalleri, XAS, EXAFS

ABSTRACT
A characterization of 3d metal thin films is essential to understand their microscopic origins. We have used high resolution L-edge x-ray absorption spectroscopy (XAS), which is element specific and sensitive to chemical environment, to investigate the thin films of 3d metals. We have studied thin Cobalt films by soft x-ray absorption spectroscopy to determine the total electron yield sampling depth (λe) in Co at the Co L2,3 edge.  We have determined λe (escaping depth). This value was compared with studies in the past and thus the results in this study are suitable. Our analysis yields a value of λe =2.7±0.1 nm for the TEY sampling depth.
Key Words: 3d Transition Metals, XAS, EXAFS